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檢驗(yàn)接線端子質(zhì)量好壞的兩種試驗(yàn)
接線端子|PCB接線端子|軌道式接線端子排-上海有樂電氣有限公司 / 2017-08-21

一般在實(shí)驗(yàn)室測(cè)試端子質(zhì)量的方法有兩種：電壓降試驗(yàn)和溫升試驗(yàn)。

電壓降試驗(yàn)可用于確定連接點(diǎn)的電阻。當(dāng)導(dǎo)線首次接好時(shí)，并用當(dāng)在振動(dòng)，溫度循環(huán)和腐蝕的條件下，它反映較初的夾緊點(diǎn)的質(zhì)量。溫升試驗(yàn)也是連接電阻的和種反應(yīng)。它允許整套的接線端子在標(biāo)準(zhǔn)電流、大電流和短路的條件下被檢查。

在長(zhǎng)時(shí)間工作時(shí)，尤其在溫度變化時(shí)接點(diǎn)的壓降會(huì)大大地改變。加熱和冷卻使各接觸件膨脹和收縮，從而改變接觸壓力和使導(dǎo)線變形。如果這點(diǎn)沒有給予補(bǔ)償（即擰緊螺釘），則接觸處將產(chǎn)生升高的壓降，該壓降較終會(huì)阻礙信號(hào)或引起電弧。而籠式彈簧夾持可以自動(dòng)地根據(jù)導(dǎo)線的種類和粗細(xì)進(jìn)行調(diào)節(jié)。壓降幾乎保持不變一保證長(zhǎng)期的可靠性。

為避免這些環(huán)境中接線端子會(huì)因此受到變形等問題，接線端子和接插件中的接觸材料必須具有內(nèi)在的防腐蝕性能。

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